El método de densidad de cristal de rayos x es principalmente un método para determinar el avogadro constante na pero a medida que la constante avogadro está relacionada con la constante de planck también determina un valor para h. El principio detrás del método es determinar na como la relación entre el volumen de la célula unidad de un cristal, medido por la cristalografía de rayos x, y el volumen molar de la sustancia. Se utilizan cristales de silicio, ya que están disponibles en alta calidad y pureza por la tecnología desarrollada para la industria de semiconductores. el volumen de células de la unidad se calcula a partir de la separación entre dos aviones de cristal referidos como d220. el molar volumen VM (si) requiere un conocimiento de la densidad del cristal y el peso atómico del silicio utilizado. la constante de planck se da por
La constante avogadro está determinada a ser la relación entre qué dos factores en el método de densidad de cristal de rayos x?
el volumen de la célula unidad de un cristal, medido por la cristalografía de rayos x, y el volumen molar de la sustancia