अर्धचालक उद्योग में, अवरक्त प्रकाश का उपयोग पतली फिल्मों और आवधिक गर्त संरचनाओं जैसे सामग्री को चिह्नित करने के लिए किया जा सकता है । एक अर्धचालक वेफर की सतह से प्रकाश की reflectance को मापने के द्वारा, अपवर्तन (एन) और विलुप्त गुणांक (k) का सूचकांक forouhi-गरजने फैलाव समीकरण के माध्यम से निर्धारित किया जा सकता है । इन्फ्रारेड प्रकाश से reflectance का उपयोग उच्च पहलू अनुपात गर्त संरचनाओं के महत्वपूर्ण आयाम, गहराई और: कोण को निर्धारित करने के लिए भी किया जा सकता है ।
कौन सा अक्षर विलुप्ति गुणांक का प्रतिनिधित्व करता है?
k